技術(shù) 可程式恒溫環(huán)境測試箱 可程式恒溫恒濕實(shí)驗箱
- 更新時間：2025-03-07
技術(shù) 可程式恒溫環(huán)境測試箱 可程式恒溫恒濕實(shí)驗箱可程式恒溫環(huán)境模擬箱的零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的*件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
| 品牌 | 艾思荔/Asli |
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操作簡便可程式恒溫環(huán)境模擬箱 技術(shù)可程式恒溫恒濕 可程式恒溫恒濕測試箱價格
可程式恒溫環(huán)境測試箱 主要為電子零部件、工業(yè)材料、成品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱，復(fù)雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件，適用于電子電器、通訊、五金、橡膠、家具、玩具、航天、、石油、化工、汽車（摩托車）、船舶、科研等各行業(yè)和單位。 （.asLi..）
可程式恒溫環(huán)境測試規(guī)格參數(shù)
內(nèi)尺寸：1000*1000*1000mm（W*H*D）
溫度范圍：-40℃～+150℃（可選擇）
測試環(huán)境：環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下。
測試方法：GB/T5170.2-2008溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5-2008濕熱試驗設(shè)備
升溫時間：RT～+150℃/40min（3℃/min非線性空載）
降溫時間：RT～-40℃/60min（0.75~1℃/min非線性空載） （135473715035）
溫度波動度：≤0.2℃（注：如按GB/T5170.2-1996表示，波動度為≤±0.25℃）
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可程式恒溫環(huán)境測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
1．GB11158高溫試驗箱技術(shù)條件
2．GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
3．GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
4．GB/T10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
5．GB/T2423.1-2001低溫試驗箱試驗方法
6．GB/T2423.2-2001高溫試驗箱試驗方法
7．GB/T2423.3-93濕熱試驗箱試驗方法
8．GB/T2423.4-93交變濕熱試驗方法
9．GB/T2423.22-2001溫度變化試驗方法 （）
10．IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法
11．IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法
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