以往，環(huán)境試驗(yàn)被作為一種產(chǎn)品預(yù)期要經(jīng)受外場(chǎng)實(shí)際環(huán)境的模擬試驗(yàn)。研制產(chǎn)品時(shí)通常把技術(shù)條件規(guī)定的應(yīng)力極限值作為鑒定或考核產(chǎn)品的條件。但是，即使已順利通過(guò)了設(shè)計(jì)階段的鑒定試驗(yàn)和生產(chǎn)階段的驗(yàn)收試驗(yàn)，殘留的潛在缺陷仍然很多，大量產(chǎn)品使用時(shí)可靠性差，平均故障間隔時(shí)間（MTBF）短，外場(chǎng)返修頻繁，導(dǎo)致?lián)ＹM(fèi)用、維修費(fèi)用居高不下，用戶(hù)或客戶(hù)不滿意，嚴(yán)重影響研制部門(mén)和制造廠商的信譽(yù)。

傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)（包括環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)和可靠性鑒定試驗(yàn)等）大多也是在模擬環(huán)境下進(jìn)行的試驗(yàn)，以ESS為例，早電子產(chǎn)品的ESS 是根據(jù)美國(guó)*1979年NAVMAT-P9492《生產(chǎn)篩選試驗(yàn)大綱》確定的。溫度范圍一般采用技術(shù)條件規(guī)定的上下限，溫度循環(huán)次數(shù)由產(chǎn)品的復(fù)雜程度決定，如表1所示。隨機(jī)振動(dòng)采用梯型譜，20～80Hz為+3db/OCT，80～350Hz, 為功率譜密度0.02～0.04g2/Hz的平直譜,350～2000Hz為3db/OCT，振動(dòng)時(shí)間為單向10min，三向時(shí)每向5min。

 90年制定的國(guó)軍標(biāo)GJB1032《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法》參照《MIL-STD-2164-85》，強(qiáng)調(diào)*檢驗(yàn)要求，規(guī)定環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)包含兩部分試驗(yàn)。部分為缺陷剔除試驗(yàn)（盡可能激發(fā)故障、并修復(fù)），要求完成40h溫度循環(huán)和5min隨機(jī)振動(dòng)。二部分為*檢驗(yàn)試驗(yàn)，以驗(yàn)證篩選的有效性，其應(yīng)力量級(jí)與部分試驗(yàn)相同，要求完成80h溫度循環(huán)中連續(xù)40h循環(huán)*和15min中連續(xù)5min*振動(dòng)試驗(yàn)。每一次循環(huán)時(shí)間約4h，變溫率為 5℃/min，振動(dòng)要求與早期標(biāo)準(zhǔn)相一致?？煽啃栽鲩L(zhǎng)試驗(yàn)則選用模擬現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際的綜合環(huán)境條件進(jìn)行。GJB1407-92《可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)》規(guī)定可靠性增長(zhǎng)的總試驗(yàn)時(shí)間一般為（5～25）MTBF。這些試驗(yàn)費(fèi)用昂貴，試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)，而價(jià)格和研制周期已成為當(dāng)今市場(chǎng)激烈競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)。因此研究開(kāi)發(fā)一種快速、經(jīng)濟(jì)、有效的新的可靠性試驗(yàn)方法已勢(shì)在必行。

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